Hard single diffractive jet production at D0

Conference · Thu Aug 01 04:00:00 EDT 1996

OSTI ID:412901

Abachi, S.; Abbott, B.; Abolins, M.; Acharya, Bannanje Sripath; Adam, I.; Adams, D. L.; Adams, M.; Ahn, S.; Aihara, H.; Alitti, J.; Alvarez, G.; Alves, G. A.; Amidi, E.; Amos, Norman A.; Anderson, W.; Aronson, S. H.; Astur, R.; Avery, R. E.; Baarmand, M. M.; Baden, A. ; Balamurali, V.; Balderston, J.; Baldin, B.; Banerjee, S.; Bantly, J.; Bartlett, J. F.; Bazizi, K.; Bendich, J.; Beri, S. B.; Bertram, I.; Bezzubov, V.; Bhat, P. C.; Bhatnagar, V.; Bhattacharjee, M.; Bischoff, A.; Biswas, N.; Blazey, G. C.; Blessing, Susan K.; Bloom, P.; Boehnlein, Amber S.; Bojko, N. I.; Borcherding, F.; Borders, J.; Boswell, C.; Brandt, A.; Brock, R.; Bross, A. D.; Buchholz, D.; Burtovoy, V.; Butler, John M.; Carvalho, W.; Casey, D.; Castilla-Valdez, H.; Chakraborty, D.; Chang, S. M.; Chekulaev, S.; Chen, L. P.; Chen, W.; Choi, S.; Chopra, S.; Choudhary, B. C.; Christenson, J. H.; Chung, M.; Claes, D.; Clark, A. R.; Cobau, W. G.; Cochran, J.; Cooper, W. E.; Cretsinger, C.; Cullen-Vidal, D.; Cummings, M.; Cutts, D.; Dahl, O. I.; De, K.; Demarteau, M.; Denisenko, N.; Denisov, D.; Denisov, S. P.; Diehl, H. T.; Diesburg, M.; Di Loreto, G.; Dixon, Roger L.; Draper, P.; Drinkard, J.; Ducros, Y.; Dugad, S. R.; Edmunds, D.; Ellison, J.; Elvira, V. D.; Engelmann, R.; Eno, S.; Eppley, G.; Ermolov, P.; Eroshin, O.; Evdokimov, V.; Fahey, S.; Fahland, T.; Fatyga, M.; Fatyga, M. K.; Featherly, J.; Feher, S.; Fein, D.; Ferbel, T.; Finocchiaro, G.; Fisk, H. E.; Fisyak, Yuri V.; Flattum, E.; Forden, G. E.; Fortner, M.; Frame, K. C.; Franzini, P.; Fuess, S.; Gallas, E.; Galyaev, A. N.; Geld, T. L.; Genik, R.J., II; Genser, K.; Gerber, C. E.; Gibbard, B. G.; Glebov, V.; Glenn, S.; Glicenstein, J. F.; Gobbi, B.; Goforth, M.; Goldschmidt, A.; Gomez, B.; Gomez, G.; Goncharov, P. I.; Gonzalez Solis, J. L.; Gordon, H.; Goss, L. T.; Graf, N.; Grannis, P. D.; Green, D. R.; Green, J.; Greenlee, H.; Griffin, G.; Grossman, N.; Grudberg, P.; Gruenendahl, Stefan; Gu, W.; Guglielmo, G.; Guida, J. A.; Guida, J. M.; Guryn, W.; Gurzhev, S. N.; Gutierrez, P.; Gutnikov, Yu.E.; Hadley, N. J.; Haggerty, H.; Hagopian, S.; Hagopian, V.; Hahn, K. S.; Hall, R. E.; Hansen, S.; Hatcher, R.; Hauptman, J. M.; Hedin, D.; Heinson, Ann; Heintz, U.; Hernandez-Montoya, A. R.; Heuring, T.; Hirosky, R.; Hobbs, J. D.; Hoeneisen, B.; Hoftun, J.; Hsieh, F.; Hu, Tao; Hu, Ting; Hu, Tong; Huehn, T.; Igarashi, S.; Ito, A. S.; James, E.; Jaques, J.; Jerger, S. A.; Jiang, J. Z.Y.; Joffe-Minor, T.; Johari, H.; Johns, K.; Johnson, M.; Johnstad, H.; Jonckheere, Alan M.; Jones, M.; Jostlein, H.; Jun, S. Y.; Jung, C. K.; Kahn, S.; Kalbfleisch, G.; Kang, J. S.; Kehoe, R.; Kelly, M.; Kerth, L.; Kim, C. L.; Kim, S. K.; Klatchko, A.; Klima, B.; Klochkov, B.; Klopfenstein, C.; Klyukhin, V.; Kochetkov, V.; Kohli, J. M.; Koltick, D. S.; Kostritsky, A. V.; Kotcher, J.; Kourlas, J.; Kozelov, A.; Kozlovsky, E. A.; Krishnaswamy, M. R.; Krzywdzinski, S.; Kunori, S.; Lami, S.; Landsberg, Greg L.; Lebrat, J. F.; Leflat, A.; Li, H; Li, J.; Li, Y. K.; Li-Demarteau, Q. Z.; Lima, J. G.R.; Lincoln, D.; Linn, S. L.; Linnemann, J. T.; Lipton, R.; Liu, Y. C.; Lobkowicz, F.; Loken, S. C.; Lokos, S.; Lueking, L.; Lyon, Adam L.; Maciel, A. K.A.; Madaras, R. J.; Madden, R.; Magana-Mendoza, L.; Mani, S.; Mao, H. S.; Markeloff, R.; Markosky, L.; Marshall, T.; Martin, M. I.; May, B.; Mayorov, A.; McCarthy, R.; McKibben, T.; McKinley, J.; McMahon, T.; Melanson, H. L.; de Mello Neto, J. R.T.; Merritt, K. W.; Miettinen, H.; Mincer, A.; de Miranda, J. M.; Mishra, C. S.; Mokhov, N.; Mondal, N. K.; Montgomery, Hugh E.; Mooney, P.; da Motta, H.; Mudan, M.; Murphy, C.; Nang, F.; Narain, M.; Narasimham, V. S.; Narayanan, A.; Neal, H. A.; Negret, J. P.; Neis, E.; Nemethy, P.; Nesic, D.; Nicola, M.; Norman, D.; Oesch, L.; Oguri, V.; Oltman, E.; Oshima, N.; Owen, D.; Padley, B.Paul; Pang, M.; Para, A.; Park, C. H.; Park, Y. M.; Partridge, Richard; Parua, N.; Paterno, M.; Perkins, J.; Peryshkin, A.; Peters, M.; Piekarz, H.; Pishchalnikov, Yu.; Podstavkov, V.; Pope, B. G.; Prosper, H.; Protopopescu, S.; Puseljic, D.; Qian, J.; Quintas, P. Z.; Raja, R.; Rajagopalan, S.; Ramirez, O.; Rao, M. V.S.; Rapidis, P. A.; Rasmussen, L.; Reucroft, S.; Rijssenbeek, M.; Rockwell, T.; Roe, N. A.; Rubinov, P.; Ruchti, R.; Rutherfoord, J.; Sanchez-Hernandez, A.; Santoro, A.; Sawyer, L.; Schamberger, R.Dean; Schellman, H.; Sculli, J.; Shabalina, E.; Shaffer, C.; Shankar, H. C.; Shivpuri, R. K.; Shupe, M.; Singh, J. B.; Sirotenko, V.; Smart, Wesley M.; Smith, A.; Smith, R. P.; Snihur, R.; Snow, G. R.; Snow, J.; Snyder, S.; Solomon, J.; Sood, P. M.; Sosebee, M.; Souza, M.; Spadafora, A. L.; Stephens, R.; Stevenson, M. L.; Stewart, D.; Stoyanova, D.; Stoker, D.; Turner, Kathleen R.; Strovink, M.; Sznajder, A.; Tamburello, P.; Tarazi, J.; Tartaglia, M.; Taylor, T. L.; Thompson, J.; Trippe, T. G.; Tuts, P. M.; Varelas, N.; Varnes, E. W.; Virador, P. R.G.; Vititoe, D.; Volkov, A.; Vorobev, A. P.; Wahl, Horst D.; Wang, G.; Warchol, J.; Watts, G.; Wayne, M.; Weerts, H.; White, A.; White, J. T.; Wightman, J. A.; Wilcox, J.; Willis, S.; Wimpenny, S. J.; Wirjawan, J. V.D.; Womersley, J.; Won, E.; Wood, D. R.; Xu, H.; Yamada, R.; Yamin, P.; Yanagisawa, C.; Yang, J.; Yasuda, T.; Yepes, P.; Yoshikawa, C.; Youssef, S.; Yu, J.; Yu, Y.; Zhu, Q.; Zhu, Z. H.; Zieminska, Daria; Zieminski, A.; Zverev, E. G.; Zylberstejn, A.

Preliminary results from the D{null} experiment on jet production with forward rapidity gaps in {ital p{anti p}} collisions are presented. A class of dijet events with a forward rapidity gap is observed at center-of-mass energies {radical}s = 1800 GeV and 630 GeV. The number of events with rapidity gaps at both center-of-mass energies is significantly greater than the expectation from multiplicity fluctuations and is consistent with a hard single diffractive process. A small class of events with two forward gaps and central dijets is also observed at 1800 GeV. This topology is consistent with hard double pomeron exchange.

• Research Organization: Fermi National Accelerator Laboratory (FNAL), Batavia, IL (United States)
• Sponsoring Organization: USDOE Office of Science (SC), High Energy Physics (HEP) (SC-25)
• Contributing Organization: D0
• DOE Contract Number: AC02-07CH11359
• OSTI ID: 412901
• Report Number(s): FERMILAB-CONF-96-247-E; oai:inspirehep.net:425460
• Country of Publication: United States
• Language: English

Related Subjects

72 PHYSICS OF ELEMENTARY PARTICLES AND FIELDS
DATA ANALYSIS
FERMILAB TEVATRON
GEV RANGE 100-1000
MONTE CARLO METHOD
MULTIPLICITY
PARTICLE RAPIDITY
POMERANCHUK PARTICLES
PROTON-ANTIPROTON INTERACTIONS
TEV RANGE 01-10