You need JavaScript to view this

New developments in the analysis and measurement of thicknesses by {beta}-particle excitation of X fluorescent rays; Nouveaux developpements de l'analyse et de la mesure des epaisseurs par excitation des raies de fluorescence X au moyen de particules {beta}; Novye usovershenstvovaniya analiza i izmereniya plotnosti putem vozbuzhdeniya fluorestsiruyushchikh spektrov rentgenovskogo lucha beta-chastitsami; Nuevos adelantos en el analisis y la medicion de espesores mediante la excitacion de rayos X por particulas beta

Conference:

Abstract

The method of analysing and measuring the thickness of deposits by {beta}-X fluorescence which we previously described has been further developed. Using Pm{sup 147} and Kr{sup 85} sources, it is possible to reduce the background observed with Sr{sup 90}. We quote the results obtained for various thickness measurements of metal deposits, an analysis of the solutions, and the continuous measurement of calcium and iron in core samples. We describe experiments made for analysis of the X-radiation by crystal. (author) [French] Le procede d'analyse et de mesure des epaisseurs de depots par fluorescence {beta}-X que nous avons precedemment decrit a fait l'objet de nouveaux developpements. L'emploi de sources de {sup 147}Pm et de {sup 85}Kr permet de reduire le bruit de fond que l'on observe avec le {sup 90}Sr. Nous donnons les resultats obtenus pour diverses mesures d'epaisseurs de depots metalliques, l'analyse des solutions et la mesure en continu du calcium et du fer dans les carottes de minerais. Nous decrivons les essais effectues en vue d'analyser le rayonnement X au moyen d'un cristal. (author) [Spanish] Los autores han introducido nuevos perfeccionamientos en su procedimiento de analisis y de medicion de espesores de depositos por fluorescencia de rayos X excitada por  More>>
Authors:
Martinelli, P; [1]  Seibel, G [2] 
  1. Commissariat a l'Energie Atomique, Saclay (France)
  2. Institut de Recherches de la Siderurgie, St-Germain-en-Laye (France)
Publication Date:
Jan 15, 1962
Product Type:
Conference
Resource Relation:
Conference: Conference on the Use of Radioisotopes in the Physical Sciences and Industry, Copenhagen (Denmark), 6-17 Sep 1960; Other Information: 10 figs, 3 tabs, 10 refs; Related Information: In: Radioisotopes in the Physical Sciences and Industry. Proceedings of the Conference on the Use of Radioisotopes in the Physical Sciences and Industry. V. II| 566 p.
Subject:
07 ISOTOPES AND RADIATION SOURCES; CALCIUM; CRYSTALS; DEPOSITS; EXCITATION; FLUORESCENCE; KRYPTON 85; PARTICLES; PROMETHIUM 147; SOLUTIONS; STRONTIUM 90; THICKNESS; X RADIATION
OSTI ID:
22025659
Research Organizations:
International Atomic Energy Agency, Vienna (Austria); United Nations Educational, Scientific and Cultural Organization, Paris (France)
Country of Origin:
IAEA
Language:
French
Other Identifying Numbers:
Other: ISSN 0074-1884; TRN: XA12N1675112952
Submitting Site:
INIS
Size:
page(s) 41-53
Announcement Date:
Jan 16, 2013

Conference:

Citation Formats

Martinelli, P, and Seibel, G. New developments in the analysis and measurement of thicknesses by {beta}-particle excitation of X fluorescent rays; Nouveaux developpements de l'analyse et de la mesure des epaisseurs par excitation des raies de fluorescence X au moyen de particules {beta}; Novye usovershenstvovaniya analiza i izmereniya plotnosti putem vozbuzhdeniya fluorestsiruyushchikh spektrov rentgenovskogo lucha beta-chastitsami; Nuevos adelantos en el analisis y la medicion de espesores mediante la excitacion de rayos X por particulas beta. IAEA: N. p., 1962. Web.
Martinelli, P, & Seibel, G. New developments in the analysis and measurement of thicknesses by {beta}-particle excitation of X fluorescent rays; Nouveaux developpements de l'analyse et de la mesure des epaisseurs par excitation des raies de fluorescence X au moyen de particules {beta}; Novye usovershenstvovaniya analiza i izmereniya plotnosti putem vozbuzhdeniya fluorestsiruyushchikh spektrov rentgenovskogo lucha beta-chastitsami; Nuevos adelantos en el analisis y la medicion de espesores mediante la excitacion de rayos X por particulas beta. IAEA.
Martinelli, P, and Seibel, G. 1962. "New developments in the analysis and measurement of thicknesses by {beta}-particle excitation of X fluorescent rays; Nouveaux developpements de l'analyse et de la mesure des epaisseurs par excitation des raies de fluorescence X au moyen de particules {beta}; Novye usovershenstvovaniya analiza i izmereniya plotnosti putem vozbuzhdeniya fluorestsiruyushchikh spektrov rentgenovskogo lucha beta-chastitsami; Nuevos adelantos en el analisis y la medicion de espesores mediante la excitacion de rayos X por particulas beta." IAEA.
@misc{etde_22025659,
title = {New developments in the analysis and measurement of thicknesses by {beta}-particle excitation of X fluorescent rays; Nouveaux developpements de l'analyse et de la mesure des epaisseurs par excitation des raies de fluorescence X au moyen de particules {beta}; Novye usovershenstvovaniya analiza i izmereniya plotnosti putem vozbuzhdeniya fluorestsiruyushchikh spektrov rentgenovskogo lucha beta-chastitsami; Nuevos adelantos en el analisis y la medicion de espesores mediante la excitacion de rayos X por particulas beta}
author = {Martinelli, P, and Seibel, G}
abstractNote = {The method of analysing and measuring the thickness of deposits by {beta}-X fluorescence which we previously described has been further developed. Using Pm{sup 147} and Kr{sup 85} sources, it is possible to reduce the background observed with Sr{sup 90}. We quote the results obtained for various thickness measurements of metal deposits, an analysis of the solutions, and the continuous measurement of calcium and iron in core samples. We describe experiments made for analysis of the X-radiation by crystal. (author) [French] Le procede d'analyse et de mesure des epaisseurs de depots par fluorescence {beta}-X que nous avons precedemment decrit a fait l'objet de nouveaux developpements. L'emploi de sources de {sup 147}Pm et de {sup 85}Kr permet de reduire le bruit de fond que l'on observe avec le {sup 90}Sr. Nous donnons les resultats obtenus pour diverses mesures d'epaisseurs de depots metalliques, l'analyse des solutions et la mesure en continu du calcium et du fer dans les carottes de minerais. Nous decrivons les essais effectues en vue d'analyser le rayonnement X au moyen d'un cristal. (author) [Spanish] Los autores han introducido nuevos perfeccionamientos en su procedimiento de analisis y de medicion de espesores de depositos por fluorescencia de rayos X excitada por particulas beta. La utilizacion de fuentes de {sup 147}Pm y de {sup 85}Kr permite reducir la actividad de fondo que se observa empleando {sup 90}Sr. Los autores exponen los resultados obtenidos en materia de mediciones de espesores de depositos metalicos, analisis de soluciones y medicion continua del calcio y del hierro en muestras de minerales extraidas por sondeo. Tambien describen los ensayos realizados con miras a analizar los rayos X por medio de un cristal. (author) [Russian] Protsess analiza i izmereniya plotnosti sloev putem fluorestsiruyushchikh beta- i rentgenovskikh luchej, kotoryj opisyvalsya nami ran'she, byl predmetom novykh usovershenstvovanij. Ispol'zovanie istochnikov prometeya-147 i kriptona-85 daet vozmozhnost' umen'shit' fon, kotoryj nablyudaetsya pri ispol'zovanii strontsiya-90. Privodyatsya dannye, poluchennye dlya razlichnykh izmerenij plotnosti metallicheskikh sloev, analiz rastvorov i nepreryvnoe izmerenie kal'tsiya i zheleza v rudnykh porodakh. Daetsya opisanie opytov, provedennykh s tsel'yu analiza rentgenovskogo oblucheniya s pomoshch'yu kristalla. (author)}
place = {IAEA}
year = {1962}
month = {Jan}
}