Abstract
The present work concerns the preparation of thin layers of pure uranium (thickness 100 to 1000 Angstrom) by thermal evaporation under vacuum. The protection of uranium against oxidation is obtained by using aluminium deposits under and above the uranium layer. The purity of the layers obtained is checked by electron diffraction and the necessary conditions to avoid oxidation and alloy formation during the formation of deposit are studied. Three methods for measuring the thickness are examined: by {alpha} particle counting, by weighing the condensed mass and by weighing the evaporated mass. The method using {alpha} particle counting turned to be the most accurate for low thickness layers. (author) [French] Le present travail concerne la preparation de couches minces d'uranium pur (epaisseurs de 100 a 1000 Angstrom) par evaporation thermique sous vide. La protection de l'uranium contre l'oxydation par l'air est obtenue grace a des couches d'aluminium deposees sous vide sous et sur la couche d'uranium. La purete des couches obtenues est verifiee par diffraction d'electrons et les conditions necessaires pour eviter l'oxydation et la formation d'alliages lors du depot sont etudiees. Trois methodes de mesure des epaisseurs sont examinees, mesure par comptage de particules {alpha}, mesure par pesee de la
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Bersuder, L de
[1]
- Commissariat a l'Energie Atomique, Saclay (France).Centre d'Etudes Nucleaires
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Bersuder, L de.
Development of a technique of preparation of uranium screens for soft X Ray spectrography (1960); Mise au point d'une technique de preparation d'ecrans d'uranium pour la spectrographie de rayons X mous (1960).
France: N. p.,
1961.
Web.
Bersuder, L de.
Development of a technique of preparation of uranium screens for soft X Ray spectrography (1960); Mise au point d'une technique de preparation d'ecrans d'uranium pour la spectrographie de rayons X mous (1960).
France.
Bersuder, L de.
1961.
"Development of a technique of preparation of uranium screens for soft X Ray spectrography (1960); Mise au point d'une technique de preparation d'ecrans d'uranium pour la spectrographie de rayons X mous (1960)."
France.
@misc{etde_20967983,
title = {Development of a technique of preparation of uranium screens for soft X Ray spectrography (1960); Mise au point d'une technique de preparation d'ecrans d'uranium pour la spectrographie de rayons X mous (1960)}
author = {Bersuder, L de}
abstractNote = {The present work concerns the preparation of thin layers of pure uranium (thickness 100 to 1000 Angstrom) by thermal evaporation under vacuum. The protection of uranium against oxidation is obtained by using aluminium deposits under and above the uranium layer. The purity of the layers obtained is checked by electron diffraction and the necessary conditions to avoid oxidation and alloy formation during the formation of deposit are studied. Three methods for measuring the thickness are examined: by {alpha} particle counting, by weighing the condensed mass and by weighing the evaporated mass. The method using {alpha} particle counting turned to be the most accurate for low thickness layers. (author) [French] Le present travail concerne la preparation de couches minces d'uranium pur (epaisseurs de 100 a 1000 Angstrom) par evaporation thermique sous vide. La protection de l'uranium contre l'oxydation par l'air est obtenue grace a des couches d'aluminium deposees sous vide sous et sur la couche d'uranium. La purete des couches obtenues est verifiee par diffraction d'electrons et les conditions necessaires pour eviter l'oxydation et la formation d'alliages lors du depot sont etudiees. Trois methodes de mesure des epaisseurs sont examinees, mesure par comptage de particules {alpha}, mesure par pesee de la masse condensee et mesure par pesee de la masse evaporee. La mesure par comptage de particules {alpha} s'avere etre la plus precise pour les couches de faibles epaisseurs. (auteur)}
place = {France}
year = {1961}
month = {Jul}
}
title = {Development of a technique of preparation of uranium screens for soft X Ray spectrography (1960); Mise au point d'une technique de preparation d'ecrans d'uranium pour la spectrographie de rayons X mous (1960)}
author = {Bersuder, L de}
abstractNote = {The present work concerns the preparation of thin layers of pure uranium (thickness 100 to 1000 Angstrom) by thermal evaporation under vacuum. The protection of uranium against oxidation is obtained by using aluminium deposits under and above the uranium layer. The purity of the layers obtained is checked by electron diffraction and the necessary conditions to avoid oxidation and alloy formation during the formation of deposit are studied. Three methods for measuring the thickness are examined: by {alpha} particle counting, by weighing the condensed mass and by weighing the evaporated mass. The method using {alpha} particle counting turned to be the most accurate for low thickness layers. (author) [French] Le present travail concerne la preparation de couches minces d'uranium pur (epaisseurs de 100 a 1000 Angstrom) par evaporation thermique sous vide. La protection de l'uranium contre l'oxydation par l'air est obtenue grace a des couches d'aluminium deposees sous vide sous et sur la couche d'uranium. La purete des couches obtenues est verifiee par diffraction d'electrons et les conditions necessaires pour eviter l'oxydation et la formation d'alliages lors du depot sont etudiees. Trois methodes de mesure des epaisseurs sont examinees, mesure par comptage de particules {alpha}, mesure par pesee de la masse condensee et mesure par pesee de la masse evaporee. La mesure par comptage de particules {alpha} s'avere etre la plus precise pour les couches de faibles epaisseurs. (auteur)}
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