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Contribution to the measurement of the reflection coefficient for curved crystals between 50 and 80 keV; Contribution a la mesure du coefficient de reflexion de cristaux courbes entre 50 keV et 80 keV

Abstract

In the first part, we summarize the main approximate theories dealing with the diffraction of electromagnetic radiation by the crystalline medium, allowing the determination of the characteristic properties of flat and bent crystals used in X and gamma-Ray spectroscopy ('Laue Case'). We describe the experimental setting and we explain our method to measure {gamma}: reflectivity of elastically or plastically bent-crystals from narrow wave-length intervals in the continuous X-Ray spectrum. We discuss our experimental results obtained with different crystals (quartz (3140), Al (200), FLi (200) and compare them with theoretical ones. Finally, we refer to a use of the bent-crystal spectrometer (Cauchois arrangement) in dosimetry. (author) [French] Dans la premiere partie, nous resumons les principales approximations theoriques qui traitent la diffraction du rayonnement electromagnetique par le milieu cristallin et permettent de determiner les grandeurs caracteristiques des lames cristallines planes ou courbees utilisees 'par transmission' en spectroscopie X ou gamma. Apres avoir decrit le montage experimental, nous exposons la methode de mesure de {gamma}: coefficient de reflexion de cristaux courbes (elastiquement ou plastiquement). Le domaine energetique etudie est voisin de 100 keV. Dans cette methode, nous n'utilisons pas des rayonnements monoenergetiques provenant de transitions atomiques ou nucleaires mais des bandes etroites d'energie  More>>
Authors:
Chartier, J [1] 
  1. Commissariat a l'Energie Atomique, Fontenay-aux-Roses (France). Centre d'Etudes Nucleaires
Publication Date:
Sep 01, 1968
Product Type:
Thesis/Dissertation
Report Number:
CEA-R-3555
Resource Relation:
Other Information: TH: These specialite chimie physique; 49 refs; PBD: Sep 1968
Subject:
75 CONDENSED MATTER PHYSICS, SUPERCONDUCTIVITY AND SUPERFLUIDITY; ALUMINIUM; BRAGG REFLECTION; CRYSTAL LATTICES; CRYSTAL STRUCTURE; GAMMA SPECTROMETERS; GERMANIUM; LITHIUM FLUORIDES; QUARTZ; X-RAY DIFFRACTION; X-RAY SPECTROMETERS
OSTI ID:
20523339
Research Organizations:
CEA Fontenay-aux-Roses, 92 (France); Paris-Univ. Faculte des Sciences, 75 (France)
Country of Origin:
France
Language:
French
Other Identifying Numbers:
TRN: FR04R3555091394
Availability:
Available from INIS in electronic form
Submitting Site:
FRN
Size:
[87] pages
Announcement Date:

Citation Formats

Chartier, J. Contribution to the measurement of the reflection coefficient for curved crystals between 50 and 80 keV; Contribution a la mesure du coefficient de reflexion de cristaux courbes entre 50 keV et 80 keV. France: N. p., 1968. Web.
Chartier, J. Contribution to the measurement of the reflection coefficient for curved crystals between 50 and 80 keV; Contribution a la mesure du coefficient de reflexion de cristaux courbes entre 50 keV et 80 keV. France.
Chartier, J. 1968. "Contribution to the measurement of the reflection coefficient for curved crystals between 50 and 80 keV; Contribution a la mesure du coefficient de reflexion de cristaux courbes entre 50 keV et 80 keV." France.
@misc{etde_20523339,
title = {Contribution to the measurement of the reflection coefficient for curved crystals between 50 and 80 keV; Contribution a la mesure du coefficient de reflexion de cristaux courbes entre 50 keV et 80 keV}
author = {Chartier, J}
abstractNote = {In the first part, we summarize the main approximate theories dealing with the diffraction of electromagnetic radiation by the crystalline medium, allowing the determination of the characteristic properties of flat and bent crystals used in X and gamma-Ray spectroscopy ('Laue Case'). We describe the experimental setting and we explain our method to measure {gamma}: reflectivity of elastically or plastically bent-crystals from narrow wave-length intervals in the continuous X-Ray spectrum. We discuss our experimental results obtained with different crystals (quartz (3140), Al (200), FLi (200) and compare them with theoretical ones. Finally, we refer to a use of the bent-crystal spectrometer (Cauchois arrangement) in dosimetry. (author) [French] Dans la premiere partie, nous resumons les principales approximations theoriques qui traitent la diffraction du rayonnement electromagnetique par le milieu cristallin et permettent de determiner les grandeurs caracteristiques des lames cristallines planes ou courbees utilisees 'par transmission' en spectroscopie X ou gamma. Apres avoir decrit le montage experimental, nous exposons la methode de mesure de {gamma}: coefficient de reflexion de cristaux courbes (elastiquement ou plastiquement). Le domaine energetique etudie est voisin de 100 keV. Dans cette methode, nous n'utilisons pas des rayonnements monoenergetiques provenant de transitions atomiques ou nucleaires mais des bandes etroites d'energie appartenant au spectre continu du rayonnement emis par un tube a rayons X. Les resultats experimentaux obtenus avec differents cristaux (quartz (3140), Al (200), FLi (200)) sont discutes et compares a ceux prevus par la theorie. Nous mentionnons, enfin, une application en dosimetrie du spectrographe a cristal couche (Geometrie Cauchois). (auteur)}
place = {France}
year = {1968}
month = {Sep}
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