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Physical analytics of high-temperature superconductors. Final report; Physikalische Analytik von Hochtemperatur-Supraleitern. Schlussbericht

Abstract

SEM, EPMA and SNMS have been used intensively for on-line analysis of the material parameters in high temperature superconductor synthesis. A new optical measurement technique has been invented. Ultra short laser pulses have been used to visualize optical phonon oscillations of high temperature superconductors. Structuring of high temperature superconductors have been investigated in the micron- and submicron range. Quality standards and specifications of high temperature superconductors have been established for microelectronic applications. (orig.) With 20 refs., 3 tabs., 67 figs. [Deutsch] Im Rahmen dieses 3-jaehrigen Verbundvorhabens wurde konventionelle Analytik REM, Mikrosonde, und Neutralteilchen-Massenspektrometrie zur begleitenden Unterstuetzung bei der Herstellung von HTSL-Schichten in anderen Verbund-Vorhaben intensiv eingesetzt. Eine neue optische Messtechnik wurde aufgebaut, die es erlaubt bis in den Grenzbereich von THz, der durch optische Phononen bestimmt ist, die Dispersion und Daempfung elektrischer Signale in passiven Leiterstrukturen am HTSL zu bestimmen. Die wesentlichen Probleme bei der Mikrostrukturierung von HTSL-Schichten im Submikron-Bereich wurden erforscht und die Spezifikationen fuer die Qualitaet von HTSL-Schichten zum Einsatz in der Mikroelektronik ausgearbeitet. (orig.) With 20 refs., 3 tabs., 67 figs.
Authors:
Publication Date:
Dec 31, 1992
Product Type:
Miscellaneous
Report Number:
INIS-mf-14127
Reference Number:
SCA: 665411; 360201; PA: DEN-93:003168; SN: 93000960087
Resource Relation:
Other Information: PBD: [1992]
Subject:
75 CONDENSED MATTER PHYSICS, SUPERCONDUCTIVITY AND SUPERFLUIDITY; 36 MATERIALS SCIENCE; YTTRIUM OXIDES; SUPERCONDUCTING FILMS; BARIUM OXIDES; COPPER OXIDES; BISMUTH OXIDES; STRONTIUM OXIDES; CALCIUM OXIDES; HIGH-TC SUPERCONDUCTORS; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; MASS SPECTROSCOPY; MICROSTRUCTURE; ETCHING; MICROANALYSIS; 665411; 360201; BASIC SUPERCONDUCTIVITY STUDIES; PREPARATION AND FABRICATION
OSTI ID:
10136230
Research Organizations:
Technische Hochschule Aachen (Germany). Lehrstuhl und Inst. fuer Halbleitertechnik; Bundesministerium fuer Forschung und Technologie, Bonn (Germany)
Country of Origin:
Germany
Language:
German
Other Identifying Numbers:
Other: ON: DE93774709; CNN: Contract BMFT 13N5487; TRN: DE9303168
Availability:
OSTI; NTIS (US Sales Only); INIS
Submitting Site:
DEN
Size:
80 p.
Announcement Date:
Jul 05, 2005

Citation Formats

Kurz, H. Physical analytics of high-temperature superconductors. Final report; Physikalische Analytik von Hochtemperatur-Supraleitern. Schlussbericht. Germany: N. p., 1992. Web.
Kurz, H. Physical analytics of high-temperature superconductors. Final report; Physikalische Analytik von Hochtemperatur-Supraleitern. Schlussbericht. Germany.
Kurz, H. 1992. "Physical analytics of high-temperature superconductors. Final report; Physikalische Analytik von Hochtemperatur-Supraleitern. Schlussbericht." Germany.
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title = {Physical analytics of high-temperature superconductors. Final report; Physikalische Analytik von Hochtemperatur-Supraleitern. Schlussbericht}
author = {Kurz, H}
abstractNote = {SEM, EPMA and SNMS have been used intensively for on-line analysis of the material parameters in high temperature superconductor synthesis. A new optical measurement technique has been invented. Ultra short laser pulses have been used to visualize optical phonon oscillations of high temperature superconductors. Structuring of high temperature superconductors have been investigated in the micron- and submicron range. Quality standards and specifications of high temperature superconductors have been established for microelectronic applications. (orig.) With 20 refs., 3 tabs., 67 figs. [Deutsch] Im Rahmen dieses 3-jaehrigen Verbundvorhabens wurde konventionelle Analytik REM, Mikrosonde, und Neutralteilchen-Massenspektrometrie zur begleitenden Unterstuetzung bei der Herstellung von HTSL-Schichten in anderen Verbund-Vorhaben intensiv eingesetzt. Eine neue optische Messtechnik wurde aufgebaut, die es erlaubt bis in den Grenzbereich von THz, der durch optische Phononen bestimmt ist, die Dispersion und Daempfung elektrischer Signale in passiven Leiterstrukturen am HTSL zu bestimmen. Die wesentlichen Probleme bei der Mikrostrukturierung von HTSL-Schichten im Submikron-Bereich wurden erforscht und die Spezifikationen fuer die Qualitaet von HTSL-Schichten zum Einsatz in der Mikroelektronik ausgearbeitet. (orig.) With 20 refs., 3 tabs., 67 figs.}
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