Abstract
Short communication.
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Salvador, V L.R., and Scapin, Junior, W S.
Thickness determination of metallic films by x-ray fluorescence spectrometry with wavelength dispersion; Determinacao de espessura de filmes metalicos por espectrometria de fluorescencia de raios-x por dispersao de comprimento de onda.
Brazil: N. p.,
1991.
Web.
Salvador, V L.R., & Scapin, Junior, W S.
Thickness determination of metallic films by x-ray fluorescence spectrometry with wavelength dispersion; Determinacao de espessura de filmes metalicos por espectrometria de fluorescencia de raios-x por dispersao de comprimento de onda.
Brazil.
Salvador, V L.R., and Scapin, Junior, W S.
1991.
"Thickness determination of metallic films by x-ray fluorescence spectrometry with wavelength dispersion; Determinacao de espessura de filmes metalicos por espectrometria de fluorescencia de raios-x por dispersao de comprimento de onda."
Brazil.
@misc{etde_10118233,
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author = {Salvador, V L.R., and Scapin, Junior, W S}
abstractNote = {Short communication.}
place = {Brazil}
year = {1991}
month = {Dec}
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