You need JavaScript to view this

A new approach to intensity and background corrections for roentgenographic residual stress measurement using the {omega}-diffractometer; Ein neuer Ansatz fuer Intensitaets- und Untergrundkorrekturen bei der roentgenographischen Eigenspannungsmessung mit dem {omega}-Diffraktometer

Technical Report:

Abstract

This report deals with the correction of intensity distributions of diffraction lines and background radiation for roentgenographic residual stress determination. The x-ray physical fundamentals of various effects influencing both the measurable intensity distribution of diffraction lines and different proportions of background radiation are compiled and a new method of intensity and background correction is derived. The new approach is tested and verified using residual stress analyses of different material conditions with different levels of background radiation. The results show that the method provides quantitatively correct residual stress analyses even in cases where the previously common procedure for intensity and background correction fails. (orig./MM). [Deutsch] Diese Arbeit befasst sich mit der Korrektur von Intensitaetsverteilungen von Beugungslinien und Untergrundstrahlung bei der roentgenographischen Eigenspannungsermittlung. Die roentgenphysikalischen Grundlagen der verschiedenen Einfluesse auf die messbare Intensitaetsverteilung von Beugungslinien und auf die verschiedenen Anteile von Untergrundstrahlung werden zusammengestellt und ein neues Verfahren zur Intensitaets- und Untergrundkorrektur abgeleitet. Der neue Ansatz wird anhand von Eigenspannungsanalysen an unterschiedlichen Werkstoffzustaenden mit unterschiedlichen Niveaus von Untergrundstrahlung erprobt und ueberprueft. Die Ergebnisse zeigen, dass das Verfahren auch in den Faellen, in denen die bislang uebliche Verfahrensweise zur Intensitaets- und Untergrundkorrektur versagt, quantitativ korrekte Eigenspannungsanalysen ermoeglicht, liefert. (orig./MM).
Authors:
Publication Date:
Feb 01, 1991
Product Type:
Technical Report
Report Number:
FhG-IWM-W-5/90
Reference Number:
SCA: 420500; PA: DEN-92:000402; SN: 92000645281
Resource Relation:
Other Information: PBD: Feb 1991
Subject:
42 ENGINEERING; STRESS ANALYSIS; X-RAY DIFFRACTION; CORRECTIONS; 420500; MATERIALS TESTING
OSTI ID:
10112674
Research Organizations:
Fraunhofer-Institut fuer Werkstoffmechanik, Freiburg im Breisgau (Germany)
Country of Origin:
Germany
Language:
German
Other Identifying Numbers:
Other: ON: DE92758983; TRN: DE9200402
Availability:
OSTI; NTIS (US Sales Only); INIS
Submitting Site:
DEN
Size:
46 p.
Announcement Date:
Jun 30, 2005

Technical Report:

Citation Formats

Pfeiffer, W. A new approach to intensity and background corrections for roentgenographic residual stress measurement using the {omega}-diffractometer; Ein neuer Ansatz fuer Intensitaets- und Untergrundkorrekturen bei der roentgenographischen Eigenspannungsmessung mit dem {omega}-Diffraktometer. Germany: N. p., 1991. Web.
Pfeiffer, W. A new approach to intensity and background corrections for roentgenographic residual stress measurement using the {omega}-diffractometer; Ein neuer Ansatz fuer Intensitaets- und Untergrundkorrekturen bei der roentgenographischen Eigenspannungsmessung mit dem {omega}-Diffraktometer. Germany.
Pfeiffer, W. 1991. "A new approach to intensity and background corrections for roentgenographic residual stress measurement using the {omega}-diffractometer; Ein neuer Ansatz fuer Intensitaets- und Untergrundkorrekturen bei der roentgenographischen Eigenspannungsmessung mit dem {omega}-Diffraktometer." Germany.
@misc{etde_10112674,
title = {A new approach to intensity and background corrections for roentgenographic residual stress measurement using the {omega}-diffractometer; Ein neuer Ansatz fuer Intensitaets- und Untergrundkorrekturen bei der roentgenographischen Eigenspannungsmessung mit dem {omega}-Diffraktometer}
author = {Pfeiffer, W}
abstractNote = {This report deals with the correction of intensity distributions of diffraction lines and background radiation for roentgenographic residual stress determination. The x-ray physical fundamentals of various effects influencing both the measurable intensity distribution of diffraction lines and different proportions of background radiation are compiled and a new method of intensity and background correction is derived. The new approach is tested and verified using residual stress analyses of different material conditions with different levels of background radiation. The results show that the method provides quantitatively correct residual stress analyses even in cases where the previously common procedure for intensity and background correction fails. (orig./MM). [Deutsch] Diese Arbeit befasst sich mit der Korrektur von Intensitaetsverteilungen von Beugungslinien und Untergrundstrahlung bei der roentgenographischen Eigenspannungsermittlung. Die roentgenphysikalischen Grundlagen der verschiedenen Einfluesse auf die messbare Intensitaetsverteilung von Beugungslinien und auf die verschiedenen Anteile von Untergrundstrahlung werden zusammengestellt und ein neues Verfahren zur Intensitaets- und Untergrundkorrektur abgeleitet. Der neue Ansatz wird anhand von Eigenspannungsanalysen an unterschiedlichen Werkstoffzustaenden mit unterschiedlichen Niveaus von Untergrundstrahlung erprobt und ueberprueft. Die Ergebnisse zeigen, dass das Verfahren auch in den Faellen, in denen die bislang uebliche Verfahrensweise zur Intensitaets- und Untergrundkorrektur versagt, quantitativ korrekte Eigenspannungsanalysen ermoeglicht, liefert. (orig./MM).}
place = {Germany}
year = {1991}
month = {Feb}
}