Characterization of an Ionization Readout Tile for nEXO

Journal Article · Wed Jan 10 00:00:00 EST 2018 · Journal of Instrumentation

DOI:https://doi.org/10.1088/1748-0221/13/01/P01006· OSTI ID:1419988

Jewell, M.; Schubert, A.; Cen, W. R.; Dalmasson, J.; DeVoe, R.; Fabris, L.; Gratta, G.; Jamil, A.; Li, G.; Odian, A.; Patel, M.; Pocar, A.; Qiu, D.; Wang, Q.; Wen, L. J.; Albert, J. B.; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Barbeau, P. ; Beck, D.; Belov, V.; Bourque, F.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Burenkov, A.; Cao, G. F.; Cao, L.; Chambers, C.; Charlebois, S. A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Cree, W.; Côté, M.; Daniels, T.; Daugherty, S. J.; Daughhetee, J.; Delaquis, S.; Mesrobian-Kabakian, A. Der; Didberidze, T.; Dilling, J.; Ding, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Dragone, A.; Fairbank, W.; Farine, J.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Fudenberg, D.; Giacomini, G.; Gornea, R.; Hansen, E. V.; Harris, D.; Hasan, M.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; House, A.; Hufschmidt, P.; Hughes, M.; Hößl, J.; Ito, Y.; Iverson, A.; Jiang, X. S.; Johnston, S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Koffas, T.; Kravitz, S.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lan, Y.; Leonard, D. S.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lin, Y. H.; MacLellan, R.; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D.; Murray, K.; Newby, R. J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Odgers, K.; Oriunno, M.; Orrell, J. L.; Ostrovskiy, I.; Overman, C. T.; Ortega, G. S.; Parent, S.; Piepke, A.; Pratte, J. -F.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rao, T.; Rescia, S.; Retiere, F.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Schmidt, S.; Schneider, J.; Sinclair, D.; Skarpaas, K.; Soma, A. K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X. L.; Tarka, M.; Todd, J.; Tolba, T.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Visser, G.; Vuilleumier, J. -L.; Wagenpfeil, M.; Weber, M.; Wei, W.; Wichoski, U.; Wrede, G.; Wu, S. X.; Wu, W. H.; Yang, L.; Yen, Y. -R.; Zeldovich, O.; Zhang, X.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.

• Research Organization: SLAC National Accelerator Lab., Menlo Park, CA (United States); Brookhaven National Lab. (BNL), Upton, NY (United States); Lawrence Livermore National Lab. (LLNL), Livermore, CA (United States)
• Sponsoring Organization: USDOE Office of Science (SC), Nuclear Physics (NP); USDOE Office of Science (SC), High Energy Physics (HEP); USDOE National Nuclear Security Administration (NNSA)
• Contributing Organization: nEXO Collaboration
• Grant/Contract Number: AC02-76SF00515; SC0012704; AC52-07NA27344
• OSTI ID: 1419988
• Alternate ID(s): OSTI ID: 1476280; OSTI ID: 1525727
• Report Number(s): BNL-209138-2018-JAAM; LLNL-JRNL-759460; TRN: US1801436
• Journal Information: Journal of Instrumentation, Vol. 13, Issue 01; ISSN 1748-0221
• Publisher: Institute of Physics (IOP)
• Country of Publication: United States
• Language: English

Related Subjects

47 OTHER INSTRUMENTATION
nEXO
Double beta decay
136Xe