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Diplomarbeit / Individuelles Projekt Automatische 2.5D-Nanostrukturierung mit dem
 

Summary: Diplomarbeit / Individuelles Projekt
Automatische 2.5D-Nanostrukturierung mit dem
Rasterkraftmikroskop
Motivation und Problemstellung:
Das Rasterkraftmikroskop (atomic force microscope = AFM) lässt sich nicht
nur zur Abbildung nanoskopischer Strukturen verwenden. Es stellt ebenfalls
ein flexibles Werkzeug zur Manipulation mit Nanometerpräzision dar. Es gibt
verschiedene Möglichkeiten, dass AFM zur Manipulation einzusetzen: Diese
reichen vom Verschieben von Nanoobjekten mit der AFM-Spitze bis hin zu
mechanischen, thermomechanischen oder anderen Lithographieverfahren.
Der relativ geringe Anschaffungspreis (im Vergleich zu z.B. Fotolithographie-
equipment) macht es für die Konstruktion von Nanostrukturen durch
mechanische Lithographie sehr interessant. Zwar ist das AFM durch seine
serielle Arbeitsweise für die Massenproduktion eher ungeeignet, für die
prototypische Entwicklung nanoelektronischer Bauteile oder die Produktion
von Templates für eine spätere Replikation mit Hilfe von Nanoimprint
Lithographie birgt es jedoch großes Potential.
Aufgabe:
Diese Arbeit umfasst die Entwicklung einer Software, mit Hilfe derer
Strukturen unterschiedlicher Höhe in verschiedene Proben ,,geschrieben"

  

Source: Appelrath, Hans-Jürgen - Department für Informatik, Carl von Ossietzky Universität Oldenburg

 

Collections: Computer Technologies and Information Sciences