Summary: 1
apl.Prof. Dr. D.J. As
1Einführung
· Ultrahochvakuumtechnologie (UHV)
· Aufdampfen und Molekularstrahlepitaxie
· Grundlagen der Teilchenoptik und Spektroskopie
· Chemische Analyse:
· Auger-Elektronenspektroskopie (AES)
· Mikrosonde (EDX)
· Sekundärionenmassenspektroskopie (SIMS)
· Rutherford Rückstreuung (RBS)
· Morphologie und Struktur der Oberflächen
· Relaxation, Rekonstruktion und Defekte
· Niederenergetische Elektronenbeugung (LEED)
· Refektion hochenergetisch gebeugter Elektronen (RHEED)
· Hochauflösende Röntgenbeugung (HRXRD)
· Röntgenreflexion
· Photoemission (UPS, XPS)
· Rasterelektronenmikroskopie (SEM)
· Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie (STM und AFM)

Source: As, Donat Josef - Department Physik, Universität Paderborn

Collections: Materials Science; Physics