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apl.Prof. Dr. D.J. As 1Rasterelektronenmikroskop
 

Summary: 1
apl.Prof. Dr. D.J. As
1Rasterelektronenmikroskop
Das Rasterelektronenmikroskop (REM, SEM) unterscheidet sich von herkömmlichen
Lichtmikroskopen hinsichtlich der Abbildung von Oberflächen durch folgende Merkmale:
· Höhere Auflösung durch Verwendung von Elektronen statt Photonen
· höhere Schärfentiefe durch das Rasterprinzip
· Farbaufnahmen bleiben dem Lichtmikroskop vorbehalten
(Falschfarbendarstellungen zeigen Intensitätsvariationen aber keine tatsächlichen
Wellenlängen)
(scanning electron microscopy)
Anwendungsgebiete:
Das REM dient zur Abbildung von Oberflächen, Untersuchung von Wechselwirkungen
zwischen Elektronen und Materie sowie zur Untersuchung von Oberflächenstrukturen
und Zusammensetzung dieser Oberflächen.
Physik, Medizin, Biologie,...
Materialuntersuchung (Maschinenbau, Geologie, ...
apl.Prof. Dr. D.J. As
2Leistungsvergleich
Auflösung Vergrößerung Schärfentiefe

  

Source: As, Donat Josef - Department Physik, Universität Paderborn

 

Collections: Materials Science; Physics